加速壽命試驗簡介
隨著電子元器件可靠性水平的不斷提高，采用常規(guī)的正常應力下的長期壽命試驗實 在太耗費人力、物力和時間了，有時甚至是不可能的。人們經過長期的實踐，提出一種加 速試驗的方法來解決這一矛盾。
所謂加速壽命試驗就是用加大應力的方法促使樣品在短時期內失效,從而預測電子 產品在正常儲存條件或工作條件下的可靠性。例如將器件置于比較髙的熱、電等應力條 件下使之加速失效，并從中求出加速系數。這樣就可以在較短時間內通過少量樣品的髙 應力試驗，推算出產品在正常應力下的可靠性水平,以供用戶設計時參考,或作為工藝對 比及合理制定工藝篩選條件和例行試驗規(guī)范的依據。同時，結合失效分析,還可以隨時了 解造成產品不可靠的主要因素(主要失效模式和失效機理），并迅速反饋到有關設計或制 造部門加以改進及糾正。因此，加速壽命試驗不僅節(jié)省了人力、物力和時間,并且結合失 效分析技術已發(fā)展成為控制、提髙半導體器件等電子元器件可靠性的一種行之有效的好 辦法，所以國內外普遍采用。
加速壽命試驗所加的應力有溫度、功率、電壓、電流或者振動、沖擊、離心加速度等應 力，常用的試驗方法有高溫儲存、高溫工作、超功率工作、卨溫髙濕儲存、高溫反偏等加速 試驗。其中，高溫儲存加速試驗Z容易成功,加電功率的加速壽命試驗比較困難。
從施加應力方式的不同又可將加速壽命試驗的應力分為恒定應力、步進應力和續(xù)進 應力3種。將樣品分成幾組,每組固定一個保持不變的應力(其水平高于正常條件）的試 驗稱為恒定應力加速壽命試驗;隨時間分階段逐步增強的試驗稱為步進應力加速壽命試 驗;隨時間等速連續(xù)增強應力的試驗稱為續(xù)進應力加速壽命試驗。兩者比較起來，恒定應力加速壽命試驗造成失效的因 素較單一，準確度較高，試驗較容易取得成功?，但試驗周期比較長。
 
加速試驗的主要缺點是產品在高應力下的退化方式可能與正常應力水平下的不同。 理想的情況應該是高應力水平作用下的器件退化方式與正常應力水平下的應仍然相同， 惟一不同的只是時間加速了。也就是說:一小時高應力水平的試驗能產生/小時正常應力 水平式驗*一樣的效果。如果確定是這樣，可以說達到“真實"加速了。事實上，真實加 速是不能得到的。盡管如此,其試驗結果仍然有很大的參考價值。加速壽命試驗的優(yōu)點 是可以縮短試驗周期，節(jié)省樣品和費用,缺點是預測的準確度較低。